日立分析儀器(上海)有限公司

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XRF鍍層測(cè)厚儀

參  考  價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào):FT160

品       牌:Hitachi/日立

廠商性質(zhì):生產(chǎn)商

產(chǎn)品資料:查看pdf文檔

所  在  地:上海市

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更新時(shí)間:2024-05-07 11:29:15瀏覽次數(shù):4328次

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產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 50萬(wàn)-100萬(wàn)
應(yīng)用領(lǐng)域 電子,印刷包裝,航天,汽車(chē),電氣
FT160 XRF鍍層測(cè)厚儀旨在測(cè)量當(dāng)今 PCB、半導(dǎo)體和微連接器上的微小部件。準(zhǔn)確、快速地測(cè)量微小部件的能力有助于提高生產(chǎn)率并避免代價(jià)高昂的返工或元件報(bào)廢。

FT160  XRF鍍層測(cè)厚儀旨在測(cè)量當(dāng)今 PCB、半導(dǎo)體和微連接器上的微小部件。準(zhǔn)確、快速地測(cè)量微小部件的能力有助于提高生產(chǎn)率并避免代價(jià)高昂的返工或元件報(bào)廢。


FT160 XRF鍍層分析儀的多毛細(xì)管光學(xué)元件可以測(cè)量小于 50 µm 的特征上的納米級(jí)鍍層,先進(jìn)的檢測(cè)器技術(shù)可為您提供高精度,同時(shí)保持較短的測(cè)量時(shí)間。其他功能,例如大樣品臺(tái)、寬樣品艙門(mén)、高清樣品攝像頭和堅(jiān)固的觀察窗,可以輕松裝載不同尺寸的物品并在大型基板上找到感興趣的區(qū)域。該分析儀易于使用,與您的 QA / QC 流程無(wú)縫集成,在問(wèn)題危機(jī)發(fā)生前提醒您。


產(chǎn)品亮點(diǎn)

FT160 的光學(xué)和檢測(cè)器技術(shù)專為微光斑和超薄鍍層分析而設(shè)計(jì),針對(duì)最小的特征進(jìn)行了優(yōu)化。

  • 用于從安全距離查看分析的大觀察窗

  • 測(cè)量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987 標(biāo)準(zhǔn)

  • IPC-4552B、IPC-4553A、IPC-4554 和 IPC-4556 一致性鍍層檢測(cè)

  • 用于快速樣品設(shè)置的自動(dòng)特征定位

  • 為您的應(yīng)用優(yōu)化的分析儀配置選擇

  • 在小于 50 µm 的特征上測(cè)量納米級(jí)鍍層

  • 將傳統(tǒng)儀器的分析通量提高一倍

  • 可容納各種形狀的大型樣品

  • 專為長(zhǎng)期生產(chǎn)使用的耐用設(shè)計(jì)


FT160

FT160L

FT160S

元素范圍

Al – U

Al – U

Al – U

探測(cè)器

硅漂移探測(cè)器 (SDD)

硅漂移探測(cè)器 (SDD)

硅漂移探測(cè)器 (SDD)

X射線管陽(yáng)極

W 或 Mo

W 或 Mo

W 或 Mo

光圈

多毛細(xì)管聚焦

多毛細(xì)管聚焦

多毛細(xì)管聚焦

孔徑大小

30 µm @ 90% 強(qiáng)度(Mo tube)

35 µm @ 90% 強(qiáng)度(W tube)

30 µm @ 90% 強(qiáng)度(Mo tube)

35 µm @ 90% 強(qiáng)度(W tube)

30 µm @ 90% 強(qiáng)度(Mo tube)

35 µm @ 90% 強(qiáng)度(W tube)

XY軸樣品臺(tái)行程

400 x 300 mm

300 x 300 mm

300 x 260 mm

最大樣品尺寸

400 x 300 x 100 mm

600 x 600 x 20 mm

300 x 245 x 80 mm

樣品聚焦

聚焦激光和自動(dòng)聚焦

聚焦激光和自動(dòng)聚焦

聚焦激光和自動(dòng)聚焦

測(cè)試點(diǎn)識(shí)別

?

?

?

軟件

XRF Controller

XRF Controller

XRF Controller





 

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